Тестер для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS (30-40 pin) и eDP (30-40 pin) распространенных, стандартных матриц, и не только шлейфов.

Комплектация без аккумуляторной батареи. Возможно укомплектовать аккумуляторной батареей + 100 руб.

Тестер предназначен для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS (30-40 pin) и eDP (30-40 pin) распространенных, стандартных матриц.

Позволяет выявить ненадежные контакты в поврежденных проводниках, методом механического воздействия на шлейф. Либо выявить проблему в случаях отсутствия изображения по причине обрывов. Также, тестер позволяет определить наличие коротких замыканий в шлейфе.

Подключается к шлейфу со стороны матрицы. Для диагностики обрывов, требуется подключение шлейфа к материнской плате ноутбука. Проверка на наличие коротких замыканий осуществляется без подключения к МП.

При использовании тестера, материнская плата должна быть обесточена!

Инструкция к тестеру шлейфов матриц

Видеообзор тестера

Тема обсуждения